Tesis profesional presentada por Juan Martínez Brito

Licenciatura en Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica. Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla.

Jurado Calificador

Presidente: Dr. Jorge Rodríguez Asomoza
Secretario y Director: M.C. Luis Gerardo Guerrero Ojeda
Vocal y Co-director: Dr. Devata Venkata Bhyrava Murthy
Suplente: Dr. Vicente Alarcón Aquino
Vocal: Dr. Roberto Rosas Romero

Cholula, Puebla, México a 11 de mayo de 2010.

Resumen

Complex permittivities of the materials are evaluated at microwave frequencies by using the Substrate Integrated Waveguide (SIW) cavity resonator and Epsilon Near Zero (ENZ) technology.

Dielectric parameters such as dielectric constant and dielectric loss of solids samples, solvents and alcohols are determined by measuring the change in the resonant frequency and in the Q factor, due to the introduction of the samples in to these resonant structures.

High Frequency Structure Simulator (HFSS) has been used to design...

Resumen (archivo pdf, 94 kb).

Martínez Brito, J. 2010. Characterization of Dielectric Samples at Microwave Frequencies Using Substrate Integrated Waveguide Techniques. Tesis Licenciatura. Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla. Mayo. Derechos Reservados © 2010.

Menú

Esta tesis sólo puede ser consultada por miembros de la Comunidad Universitaria.