Tesis profesional presentada por Ulises González Cuéllar

Licenciatura en Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica. Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla.

Jurado Calificador

Presidente: Dr. José Luis Vázquez González
Secretario y Director: Dr. Jorge Rodríguez Asomoza
Vocal: Dr. Daniel Vallejo Rodríguez

Cholula, Puebla, México a 14 de mayo de 2012.

Resumen

Como proyecto de tesis se presenta el trabajo "Sistema de medición de micro-imperfecciones en superficies, aplicando el interferómetro de Michelson". El cual tiene como objetivo mostrar la capacidad que tienen los sistemas opto- electrónicos para hacer mediciones extremadamente exactas relativas a la calidad del pulido de superficies de espejos, lentes o bien superficies pulidas que presentan irregularidades en su forma y acabado.

Para lograr nuestro objetivo se utilizará el principio básico de la técnica de interferometría óptica. El haz que...

Palabras clave: INTERFERÓMETRO DE MICHELSON.

Resumen (archivo pdf, 58 kb).

González Cuéllar, U. 2012. Sistema de medición de micro-imperfecciones en superficies, aplicando el interferómetro de Michelson. Tesis Licenciatura. Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla. Mayo. Derechos Reservados © 2012.

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