Tesis profesional presentada por
Licenciatura en Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica. Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla.
Jurado Calificador
Presidente: Dr. José Luis Vázquez
González
Secretario y Director: Dr. Jorge Rodríguez
Asomoza
Vocal: Dr. Daniel Vallejo Rodríguez
Cholula, Puebla, México a 14 de mayo de 2012.
Como proyecto de tesis se presenta el trabajo "Sistema de medición de micro-imperfecciones en superficies, aplicando el interferómetro de Michelson". El cual tiene como objetivo mostrar la capacidad que tienen los sistemas opto- electrónicos para hacer mediciones extremadamente exactas relativas a la calidad del pulido de superficies de espejos, lentes o bien superficies pulidas que presentan irregularidades en su forma y acabado.
Para lograr nuestro objetivo se utilizará el principio básico de la técnica de interferometría óptica. El haz que...
Palabras clave: INTERFERÓMETRO DE MICHELSON.
González Cuéllar, U. 2012. Sistema de medición de micro-imperfecciones en superficies, aplicando el interferómetro de Michelson. Tesis Licenciatura. Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla. Mayo. Derechos Reservados © 2012.