Resumen

Como proyecto de tesis se presenta el trabajo "Sistema de medición de micro-imperfecciones en superficies, aplicando el interferómetro de Michelson". El cual tiene como objetivo mostrar la capacidad que tienen los sistemas opto- electrónicos para hacer mediciones extremadamente exactas relativas a la calidad del pulido de superficies de espejos, lentes o bien superficies pulidas que presentan irregularidades en su forma y acabado.

Para lograr nuestro objetivo se utilizará el principio básico de la técnica de interferometría óptica. El haz que emerge de la fuente de luz (Láser) se dividirá en dos, uno se dirigirá hacia la superficie de referencia interna (perfectamente plana) y el otro hacia la muestra en estudio. Después de la reflexión los dos haces se recombinan dentro del interferómetro produciendo el fenómeno de interferencia constructiva y destructiva, el cual genera un patrón de franjas brillantes y oscuras, que dan cuenta de una imagen punto a punto de la muestra. La intensidad de luz de cada punto depende de la diferencia de trayectoria entre los dos haces. El patrón será registrado digitalmente por un sensor óptico conectado a una computadora. Pequeños desplazamientos de la superficie de referencia producen cambios en el patrón de franjas lo que hará posible registrar y computarizar la variación de las diferentes irregularidades presentes en la superficie.

Finalmente los interferogramas almacenados en el computador, serán procesados en forma individual para obtener los perfiles de la superficie.

Palabras clave: INTERFERÓMETRO DE MICHELSON.

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González Cuéllar, U. 2012. Sistema de medición de micro-imperfecciones en superficies, aplicando el interferómetro de Michelson. Tesis Licenciatura. Ingeniería Mecatrónica. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería, Universidad de las Américas Puebla. Mayo. Derechos Reservados © 2012.