Tesis profesional presentada por
Licenciatura en Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica. Escuela de Ingeniería y Ciencias, Universidad de las Américas Puebla.
Jurado Calificador
Secretario y Director: Dr. Alfonso Torres
Jácome
Cholula, Puebla, México a 14 de enero de 2008.
El propósito de esta tesis es hacer un programa que controle el HP4156A desde una PC para iniciar la medición y transmitir los resultados de la medición directamente a la PC en forma de un archivo de texto. Una vez que los datos están en la PC se requiere hacer otro programa para analizarlos y extraer los parámetros correspondientes al comportamiento de los TFTs. Se busca dar rapidez a la caracterización de los transistores de película delgada (thin film...
Osorio Mayón, Y. 2008. Automatización de la caracterización de transistores de película delgada de a-Si:H usando LabVIEW. Tesis Licenciatura. Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería y Ciencias, Universidad de las Américas Puebla. Enero. Derechos Reservados © 2008.