Tesis profesional presentada por Yahuitl Osorio Mayón

Licenciatura en Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica. Escuela de Ingeniería y Ciencias, Universidad de las Américas Puebla.

Jurado Calificador

Secretario y Director: Dr. Alfonso Torres Jácome

Cholula, Puebla, México a 14 de enero de 2008.

Resumen

El propósito de esta tesis es hacer un programa que controle el HP4156A desde una PC para iniciar la medición y transmitir los resultados de la medición directamente a la PC en forma de un archivo de texto. Una vez que los datos están en la PC se requiere hacer otro programa para analizarlos y extraer los parámetros correspondientes al comportamiento de los TFTs. Se busca dar rapidez a la caracterización de los transistores de película delgada (thin film...

Resumen (archivo pdf, 8 kb).

Osorio Mayón, Y. 2008. Automatización de la caracterización de transistores de película delgada de a-Si:H usando LabVIEW. Tesis Licenciatura. Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería y Ciencias, Universidad de las Américas Puebla. Enero. Derechos Reservados © 2008.

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