Resumen

El propósito de esta tesis es hacer un programa que controle el HP4156A desde una PC para iniciar la medición y transmitir los resultados de la medición directamente a la PC en forma de un archivo de texto. Una vez que los datos están en la PC se requiere hacer otro programa para analizarlos y extraer los parámetros correspondientes al comportamiento de los TFTs. Se busca dar rapidez a la caracterización de los transistores de película delgada (thin film transistors, TFTs) usando un programa en una PC para controlar el HP4156A (Precision Semiconductor Parameter Analyzer) por medio de la conexión GPIB-USB. Es necesario saber cómo funciona y trabaja el HP4156A, para después hacer los programas usando LabVIEW. Los TFTs que se quieren caracterizar están hechos de silicio amorfo hidrogenado y presentan propiedades y comportamientos particulares debido al material amorfo. Por lo tanto, es necesario conocer la estructura y propiedades del silicio amorfo hidrogenado para después comprender las propiedades eléctricas características de los TFTs.

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Osorio Mayón, Y. 2008. Automatización de la caracterización de transistores de película delgada de a-Si:H usando LabVIEW. Tesis Licenciatura. Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones. Departamento de Computación, Electrónica y Mecatrónica, Escuela de Ingeniería y Ciencias, Universidad de las Américas Puebla. Enero. Derechos Reservados © 2008.